 |
|
|
|
|
Przydatność kart kontrolnych STATISTICA dla przedsiębiorstw kierujących się zasadami SPC sformułowanymi w opracowaniu: "Statistical Process Control (SPC), Reference Manual, ed. Chrysler Corp. Ford Motor Co. GM Co., 1995"
Karty kontrolne dostępne w programie STATISTICA są standardowymi kartami zgodnymi z normami.
Niżej przedstawione jest szczegółowe porównanie wyników otrzymanych za pomocą STATISTICA z
wartościami liczbowymi i wykresami z zacytowanego opracowania. Cytowane opracowanie zatwierdzone przez
Chrysler, Ford i General Motors wykorzystywane jest przez dostawców wprowadzających techniki SPC w swych
procesach produkcyjnych w celu spełnienia wymagań QS9000 czy ISO/TS 16949.
Zgodność uzyskiwanych wyników jest pełna. Należy przy tym zwrócić wagę że obliczenia w opracowaniach "Statistical Process Control (SPC), Reference Manual, ed. Crysler Corp. Ford Motor Co. GM Co., 1995" oraz "Measurment System Analysis" są wykonywane ze znacznie mniejszą dokładnością niż w STATISTICA (jest to oczywiste jeżeli weźmiemy pod uwagę ograniczenie wynikające z tabelaryzacji danych i zaokrągleń w opracowaniu źródłowym). Wykresy otrzymane w STATISTICA można bezwzględnie określić jako zgodne ze źródłowymi. Dotyczy to również elementów czysto graficznych, jak grubość czy wzór linii, które w programie można dowolnie wybierać.
Karty kontrolne przy ocenie liczbowej |
|
|
|
Na rysunku widoczna jest pełna zgodność karty wykreślonej przez program STATISTICA z wykresem z materiału źródłowego. Zgodne są również wartości linii centralnych i linii kontrolnych, po uwzględnieniu zaokrągleń dokonanych w materiałach źródłowych.
Testy konfiguracji I (Runs), str. 41 Niżej pokazane jest okno programu STATISTICA pozwalającego na wybór wielu tzw. testów konfiguracji. Aktualnie załączone zostały dwa odpowiadające materiałowi źródłowemu.
Niżej podany jest przykład wykresów z wynikiem testu 4 punktów po tej samej stronie linii centralnej (przyjęto 4 zamiast 7 aby otrzymać pozytywny wynik testu na danych z materiału źródłowego).
Testy konfiguracji II (points too close...), str. 43 Wymóg pierwszy (points too close to the average range) spełniony jest przez test konfiguracji: 15 kolejnych obserwacji w strefie C (powyżej lub poniżej linii centralnej). Jeżeli słowa "substantially more than 2/3..." interpretować w sensie p-value=0.002 (=2/3^15). Oczywiście liczba 15 jest modyfikowalna. Wymóg drugi (points too close to the control limits) spełniony jest przez test konfiguracji: 2 z 3 kolejnych obserwacji w strefie A. Oraz test:4 z 5 kolejnych obserwacji w strefie B.
Przeliczanie linii kontrolnych po usunięciu próbek wskazujących na rozregulowanie, str. 45.
Wymóg przeliczania granic kontrolnych po odrzuceniu pewnych pomiarów spełnia się wybierając pewne opcje programu:
Odrzucone pomiary zaznaczane są w następujący sposób, który wydaje się być zgodny z zalecanym (wzór punktu odrzuconego, podobnie jak i inne elementy graficzne może być dobrany inaczej).
Jak widać na rysunku nowe wartości rozstępu średniego zgadzają się z dokładnością do zaokrąglenia (1.68750 ~ 1.69). Podobnie pozostałe parametry.
Widoczna jest pełna zgodność wykresów. Niezgodności liczbowe na dalszych miejscach dziesiętnych wynikają z tego, że w źródłowym opracowaniu średnią średnich obliczano na podstawie wartości zapisanych ręcznie, a więc z zaokrągleniem. STATISTICA oczywiście nie powtarza tych błędów zaokrągleń.
Karta pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu, str. 75
Na rysunku widoczna jest pełna zgodność wykresów. Poza faktem, że STATISTICA, dobierając skale na bieżąco nie dopuszcza do wyjścia wykresu poza ramki
|
|
|
|
Poza pełną zgodnością obliczeniową pokazane są możliwości dobrania cech elementów graficznych do założonego wzoru. STATISTICA dopuszcza oczywiście zmienną liczność próbek (str. 97): |
|
|
|
|
|
|
Widoczna jest zgodność wykresów i liczb.
|
|
|
|
Widoczna jest zgodność wykresów i wartości liczbowych.
|
|
|
|
Widoczna jest zgodność wykresów. Poza faktem, że STATISTICA oblicza dokładnie granice kontrolne dla każdej liczności próbki, a w materiałach źródłowych jest to robione tylko przy większych różnicach liczności.
|
|
liczbowej
