SPC – statystyczne sterowanie procesami produkcji


SPC ? statystyczne sterowanie procesami produkcji

Cena: 25 zł



Zamów

Autor: Tadeusz Sałaciński
Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej
Wydanie: Warszawa , 2009
ISBN: 978-83-7207-842-1
Liczba stron: 158

w podręczniku przedstawiono podstawową wiedzę wraz z przykładami zastosowania, niezbędną do statystycznego sterowania procesami produkcyjnymi, w których jakość jest sprawą priorytetową. W publikacji omówiono zagadnienia dotyczące systemów zarządzania jakością opartych na normach ISO 9001 oraz elementów rachunku prawdopodobieństwa i statystyki matematycznej wykorzystywanych w ramach SPC, a także techniki kart kontrolnych oraz wskaźników zdolności MSA, Six Sigma i CAQ. Podręcznik jest przeznaczony dla studentów kierunków Mechanika i Budowa Maszyn oraz Zarządzanie i Inżynieria Produkcji, ale może być również wykorzystany na innych uczelniach technicznych i ekonomicznych.


Spis treści:

      PRZEDMOWA
      WYKAZ WAŻNIEJSZYCH OZNACZEŃ
      1. SPC w INŻYNIERII JAKOŚCI
      2. ELEMENTY RACHUNKU PRAWDOPODOBIEŃSTWA i STATYSTYKI MATEMATYCZNEJ w ZASTOSOWANIACH SPC

            2.1. Wprowadzenie do statystyki matematycznej
            2.2. Definicje podstawowych pojęć rachunku prawdopodobieństwa
                    i statystyki matematycznej stosowanych w SPC
            2.3. Prezentacja danych w zastosowaniach SPC
            2.4. Przedziały ufności parametrów statystycznych
            2.5. Rozkłady zmiennych losowych
                  2.5.1. Charakter zmiennych losowych
                  2.5.2. Rozkłady zmiennej losowej o charakterze skokowym
                  2.5.3. Rozkłady zmiennej losowej o charakterze ciągłym
            2.6. Testowanie normalności rozkładu zmiennej losowej
      3. ANALIZA STABILNOŚCI i ZDOLNOŚCI PROCESU PRODUKCYJNEGO
            3.1. Wprowadzenie do SPC
            3.2. Wymagania stawiane procesom produkcyjnym w aspekcie jakości
            3.3. Regulacja procesów za pomocą kart kontrolnych
                  3.3.1. Podstawy budowy i typy kart kontrolnych
                  3.3.2. Klasyczne karty kontrolne
                  3.3.3. Karty sekwencyjne
                  3.3.4. Karty adaptacyjne
                  3.3.5. Karta wielowymiarowa T2 Hotellinga
            3.4. Zdolność procesu produkcyjnego
            3.5. Analiza stabilności i zdolności procesu produkcyjnego
      4. ANALIZA STABILNOŚCI i ZDOLNOŚCI SYSTEMÓW POMIAROWYCH DLA POTRZEB SPC
            4.1. Wymagania stawiane narzędziom i systemom pomiarowym
                  4.1.1. Rozdzielczość
                  4.1.2. Niepewność
                  4.1.3. Dokładność
                  4.1.4. Powtarzalność
                  4.1.5. Odtwarzalność
                  4.1.6. Stabilność
                  4.1.7. Liniowość
            4.2. Metodyka analizy stabilności i zdolności systemów pomiarowych
            4.3. Niepewność pomiaru
                  4.3.1. Niepewność a błąd pomiaru
                  4.3.2. Szacowanie niepewności pomiarów wielkości geometrycznych
                  4.3.3. Niepewność pomiaru na tle przedziału tolerancji
            4.4. Procedura 1 oceny systemu pomiarowego
            4.5. Procedura 2 oceny systemu pomiarowego (metoda R&R)
            4.6. Procedura 3 oceny systemu pomiarowego
      5. METODYKA SZEŚĆ SIGMA (SIX SIGMA)
      6. SPC w KOMPUTEROWYM WSPOMAGANIU JAKOŚCI (CAQ)
      7. NARZĘDZIA i TECHNIKI WSPOMAGAJĄCE SPC

            7.1. Narzędzia analizy problemów w inżynierii jakości
            7.2. Diagram Ishikawy
            7.3. Diagram Pareto
            7.4. Schemat blokowy
      SŁOWNIK WAŻNIEJSZYCH TERMINÓW
      LITERATURA